Просвечивающий электронный микроскоп (базовая модель) ПЭМ-125К

Цена:

По запросу

Артикул товара:

8085

Оставить заявку online

ОСНОВНЫЕ ФУНКЦИИ МИКРОСКОПА

Наблюдение и фотографирование изображений объектов в широком диапазоне увеличений
Исследование объектов в режимах микро-дифракции, малоугловой дифракции, дифракции высокого разрешения
Исследование объектов при их наклоне и вращении
Режим высокого контраста для медико-биологических объектов
Автоматизированное компьютерное управление
Компьютерный анализ изображений объектов по специальным программам
Элементный анализ исследуемых объектов

параметры	тип полюсного наконечника
	Высокого разрешения	Большого наклона	Высокого контраста
Разрешение, нм:
по кристаллической решетке	0,14	0,204	0,34
по точкам	0,35	0,37	0,4
Диапазон электронно-оптических увеличений	50x - 1 300 000x(31 ступень)	50x - 1 000 000x (31 ступень)	50 - 850 000x (31 ступень)
Угол наклона объекта гониометром, град	±15	±60	±15
Длина дифракционной камеры:
микродифракция, мм	80 - 3 500 (11 ступеней)	100 - 5 000 (11 ступеней)	115 - 5 800 (11 ступеней)
малоугловая дифракция, м	10 - 200 (10 ступеней)	10 - 200 (10 ступеней)	10 - 200 (10 ступеней)
дифракция высокого разрешения, мм	410	410	410
Параметры объективной линзы:
Ссф, мм	1,82	2,28	2,75
Схр, мм	1,9	2,43	2,9
F, мм	2,4	3,1	3,7

УСКОРЯЮЩЕЕ НАПРЯЖЕНИЕ

25-125 кВ, шаг регулировки 0,05; 0,1; 1,0; 5,0 10,0; 25,0 кВ нестабильность 2·10-6 1/мин, вобблер, автоматическая компенсация токов линз и токов отклоняющих систем при изменении ускоряющего напряжения.

КОНДЕНСОРНЫЙ БЛОК

Две линзы; десять ступеней регулировки диаметра электронного пучка на объекте в диапазоне от 5 мкм до 0,1 мкм; программное управление отклоняющей системой наклона и перемещения электронного пучка на объекте; независимая юстировка режимов светлого и темного поля; быстрый переход из одного режима в другой; запоминание шести положений наклона электронного пучка; держатель c тремя сменными диафрагмами; угол наклона электронного пучка на объекте ±4°; вобблер отклоняющей системы и второй конденсорной линзы.

ОБЪЕКТИВНАЯ ЛИНЗА

Эвцентрический гониометр с боковым вводом объекта, наклон объекта от электропривода, в держатель устанавливаются два объекта, автоматическая система шлюзования камеры объектов, три сменных полюсных наконечника: высокого разрешения, большого наклона, высокого контраста; восьмиполюсный электромагнитный стигматор с коррекцией смещения изображения при стигмировании, противозагрязняющая защита с жидким азотом, держатель с тремя сменными апертурными диафрагмами, вобблеры для юстировки магнитного центра и фокусировки изображения, фокусировка изображения с известным шагом с индикацией на дисплее компьютера, цифровая индикация положения объекта на дисплее компьютера с запоминанием координат по Х и У.

ПРОЕКЦИОННАЯ СИСТЕМА

Четыре линзы, при изменении увеличений в диапазоне от 2000 до 500 000 крат фокусировка изображения автоматически сохраняется, поворот изображения и дифракционной картины при изменении увеличения или длины камеры отсутствует, держатель с тремя сменными селекторными диафрагмами.

КАМЕРА НАБЛЮДЕНИЙ Окно для наблюдения изображения 220х280 мм, дополнительный экран для фокусировки Ж25 мм, десятикратный бинокуляр.

СИСТЕМА ФОТОРЕГИСТРАЦИИ

Вакуумная камера с возможностью фоторегистрации на плоскую фотопленку размером 90Х65 мм (24 шт.). Автоматический фотоэкспонометр. На фото-пластине индицируется номер эксперимента и увеличение. Более подробная информация об условиях эксперимента хранится в базе данных компьютера.

УПРАВЛЕНИЕ ПРИБОРОМ

Микроскоп управляется от промышленного компьютера типа ADVANTECH. Программное обеспечение в операционной среде WINDOWS - 2000. Управление от манипулятора типа "Мышь". В память компьютера занесены методы юстировки, работа на приборе, технические характеристики и другая необходимая информация. Программное обеспечение в операционной среде WINDOWS позволяет не только управлять микроскопом, но на этом же компьютере производить анализ химического состава объектов при работе с энергодисперсионным спектрометром и анализ изображения объектов по специальным программам при работе с CCD-камерой.

ВАКУУМНАЯ СИСТЕМА

Два механических пластинчато-роторных насоса для создания предварительного разрежения, один магниторазрядный насос для откачки пушки, конденсорного блока, объектива и проекционного блока, один диффузионный насос для откачки камеры наблюдений и фотокамеры.

ТРЕБОВАНИЯ К ПОМЕЩЕНИЮ

Площадь, кв. м.минимум 12
Высота потолка, м.минимум 2,65
Входная дверь, ширина, м.минимум 0,9 высота, м. минимум 1,8
Вода: расход, л/мин.5 давление, мПа 0,2-0,4
температура, °С 15±5 кран 1/2", шт1
слив 3 шланга
Электропитание: 3-х фазная сеть переменного тока с фазным напряжением 220±22
В частота, Гц 50±1 мощность, кВА не менее 5,5
Заземляющий контур с сопротивлением не более 4 Ом.
Вибрации пола не более 0,2 мм/сек в диапазоне от 5 до 50 Гц
Уровень электромагнитных полей не более 0,2 мкТл.
Общая масса, кг 1700 кг.

ДОПОЛНИТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ

Электронный микроскоп ПЭМ-125К может быть оснащен (по отдельному договору) следующими дополнительными устройствами:

системой вывода и анализа изображения (САИ-01А) с боковым и нижним выводом изображения при помощи CCD-камеры;
системой рентгеновского анализа (ЭДС-1) с полупроводниковым Si (Li) детектором;
комплектом дифракционных приставок (КДП) для исследования объектов в режиме дифракции высокого разрешения (длина камеры 410 мм), в том числе с нагревом объекта до 8000 град. С и охлаждением до минус 1200 град. С
держателем объектов с двойным наклоном (ДО-01), угол наклона объектов в держателе ±45 град.
автономной системой водяного охлаждения (СВ-01), поддерживающей постоянную температуру охлаждающей воды в диапазоне 16 ± 30 град. С с точностью ± 10 град. С; холодопроизводительность системы не менее 2,5 кBт